基于部分復(fù)用和統(tǒng)計(jì)的SoC測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf

1、在當(dāng)代集成電路生產(chǎn)過(guò)程中，對(duì)集成電路的測(cè)試變得至關(guān)重要。隨著集成電路的集成度增高，電路的規(guī)模會(huì)相應(yīng)增大，完成的功能也會(huì)增強(qiáng)，從而對(duì)電路的測(cè)試也變得越來(lái)越復(fù)雜，測(cè)試所需的費(fèi)用占總體成本的比例也不斷增加。片上系統(tǒng)（SoC）采用知識(shí)產(chǎn)權(quán)核復(fù)用技術(shù)，這雖然縮短了芯片開(kāi)發(fā)周期、提高芯片的生產(chǎn)效率，但同時(shí)也帶來(lái)了諸多問(wèn)題。例如，隨著SoC集成度的提高，需要對(duì)其測(cè)試的測(cè)試數(shù)據(jù)量隨之激增，這給自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的存儲(chǔ)器容量和帶寬都帶來(lái)了巨大的挑戰(zhàn)。
　

2、　 目前測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)是解決上述問(wèn)題的有效方法之一。本文對(duì)多種有效的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法進(jìn)行重點(diǎn)分析，并在此基礎(chǔ)上提出了兩種新的基于部分復(fù)用的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法，其中主要內(nèi)容有：
　　 （1）本文首先介紹了SoC背景知識(shí)和SoC測(cè)試的基本原理，然后分析了SoC測(cè)試所面臨的挑戰(zhàn)，并重點(diǎn)對(duì)一些測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法進(jìn)行分析和總結(jié)。
　　 （2）本文提出一種基于部分?jǐn)?shù)據(jù)塊復(fù)用的SoC測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法。在對(duì)數(shù)據(jù)塊的相關(guān)性、部分復(fù)用性以及

3、電路測(cè)試集的實(shí)際情況進(jìn)行分析之后，確定合理的數(shù)據(jù)塊長(zhǎng)度范圍，并對(duì)無(wú)關(guān)位進(jìn)行合理的賦值，使數(shù)據(jù)塊之間的相關(guān)性和部分復(fù)用性都較好。然后以測(cè)試集中的每條測(cè)試向量為單位，并為其尋找最優(yōu)參考?jí)K，再利用數(shù)據(jù)塊相關(guān)性統(tǒng)計(jì)和數(shù)據(jù)塊部分復(fù)用的方法進(jìn)行壓縮，取得了較好的壓縮率。
　　 （3）本文提出一種基于局部復(fù)用的選擇Huffman編碼方法。將測(cè)試集按固定長(zhǎng)度劃分成數(shù)據(jù)塊后，通過(guò)對(duì)測(cè)試集中無(wú)關(guān)位進(jìn)行合理的賦值提高數(shù)據(jù)塊之間的相關(guān)性和局部復(fù)用性，并