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文檔簡介
1、隨著半導(dǎo)體的工藝尺寸不斷縮小、電路設(shè)計的規(guī)模越來越大,微處理器核,尤其是嵌入式微處理器核,正面臨著高可靠性、高質(zhì)量、低成本等日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。與此同時,微處理器核的測試變得越來越困難,測試的成本也在不斷升高。為了降低微處理器的測試難度及測試成本,研究嵌入式微處理器核的測試具有重要的理論價值和實際意義。
本文在認真研究了現(xiàn)有的微處理器測試方法的基礎(chǔ)上采用基于指令集的自測試方法和存儲器測試方法相結(jié)合的方法對嵌入式微處理器核進行測試設(shè)
2、計,將微處理器的測試分成兩大部分:微處理器內(nèi)存儲器的測試和微處理器其它單元模塊的測試。對于微處理器內(nèi)的嵌入式存儲器,采用存儲器內(nèi)建自測試方法使用March C算法進行測試,設(shè)計了存儲器BIST控制器及其指令格式。對于微處理器其它單元模塊,采用基于指令集的自測試方法進行測試設(shè)計,其過程包括測試預(yù)處理階段和模塊自測試階段。在測試預(yù)處理階段進行微處理器模塊的部件分類和約束提取,并在指令約束條件下確定測試向量;模塊自測試階段主要是對微處理器單元
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