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文檔簡介
1、本文從存儲器技術(shù)的發(fā)展和分類開始，對存儲器的性能、指標(biāo)、故障模式和基本測試方法等做了系統(tǒng)闡述，針對DDR測試的不同層次，分別提出了基于板級的DDR測試方案、基于專用存儲器測試系統(tǒng)的DDR測試方法和基于ETS770邏輯測試系統(tǒng)的DDR測試方案?；诎寮壍腄DR測試方案，主要面向的是設(shè)計使用，對DDR接口驅(qū)動、控制信號、高速工作等部分進行試驗和測試，測試的是器件的實際使用性能。而基于專用存儲器測試系統(tǒng)的DDR測試方法，主要面向的是產(chǎn)品生產(chǎn)
2、和用戶驗收，對器件的功能和交直流參數(shù)進行測試，測試比較全面?；贓TS770邏輯測試系統(tǒng)的DDR測試方案則是面向用戶的驗收和可靠性測試。目前國內(nèi)用戶要開展對DDR SDRAM的驗收和可靠性測試的研究受到很大的限制，為解決這個問題，本文在無專用的存儲器測試圖形發(fā)生器的支持下，利用程序方法進行了測試向量的自動生成，在對生成的測試向量進行自動轉(zhuǎn)換和少量手工修改后，實現(xiàn)了對DDR SDRAM幾種存儲器圖形的測試。利用DDR SDRAM存儲器的
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