基于擴展前綴和分組的SoC測試數據編碼壓縮方法研究.pdf

1、隨著集成電路制造工藝的不斷發(fā)展，單個芯片上集成的晶體管數目越來越多。通過集成各種知識產權核，系統(tǒng)級芯片(SoC)的功能更加強大，但同時，也帶來了測試數據量的快速增加和測試應用時間的快速增長，相應地增加了測試成本，這是因為自動測試設備(ATE)的成本隨著其速度、通道容量、存儲器大小的增加，而迅速增長。 用一個可接受的代價，來解決急劇增長的測試數據量和有限的ATE傳輸帶寬之間的矛盾，正變得愈來愈困難，編碼壓縮方法提供了一種頗有前途的

2、解決方案，能有效地減少數字電路測試時傳輸的數據量和測試時間，緩解因集成度的迅速提高所帶來的海量測試數據量。本文正是圍繞SoC測試數據編碼壓縮問題展開研究。 本文在分析了一些典型的編碼技術的基礎上，提出了擴展前綴編碼方案。通過對測試集的分析，發(fā)現測試集中除了包含大量的0游程外，還包含有大量的1游程。擴展前綴編碼方案采用變長到變長的編碼方式對任意長度的0游程和1游程編碼，代碼字由前綴和尾部組成，用擴展的前綴表明編碼的游程類型，從而不

3、引入額外的標記位。對測試集中的無關位采取優(yōu)化賦值方法，減少0、1跳變，降低測試功耗。解壓時，通過使用一種特殊的計數器簡化控制電路，解壓電路硬件開銷小且較易實現。理論分析和實驗結果表明其具有較高的測試數據壓縮率和較低的測試功耗。 針對多掃描鏈測試的特點，本文提出了一種新穎的基于多掃描鏈分組列相容的測試數據壓縮和解壓方法，在壓縮率、硬件開銷和解壓協議三方面做了較好的權衡。該方法將測試集按多掃描鏈結構排列之后，采用對測試集進行分組，每