嵌入式計(jì)算機(jī)可測試性設(shè)計(jì).pdf

1、基于邊界掃描測試技術(shù)的故障診斷突破了傳統(tǒng)的管腳接觸式檢測理論和手段,可以解決其他技術(shù)無法完成的超大規(guī)模集成電路的測試問題,可以解決新型電子裝備中含可編程超大規(guī)模集成電路器件(CPLD及FPGA)、微處理器和數(shù)字信號處理器(DSP)等器件的電路板的板級測試和系統(tǒng)級測試問題,邊界掃描測試技術(shù)己成為可測試性設(shè)計(jì)[1]應(yīng)用最為廣泛的技術(shù)之一,并形成了一系列的國際標(biāo)準(zhǔn)。IEEEstd1149.1-1990作為邊界掃描的第一個協(xié)議,主要目的是板級互

2、連測試、芯片本身的測試和電路正常動作的動態(tài)觀察和修改。
　　 本文以科研項(xiàng)目《嵌入式計(jì)算機(jī)可測試性設(shè)計(jì)和測試支撐平臺》為背景,在總結(jié)目前測試技術(shù)發(fā)展?fàn)顩r的基礎(chǔ)上,對1149.1協(xié)議增加尋址能力,采用層次化結(jié)構(gòu)來支持系統(tǒng)級測試,并對邊界掃描測試技術(shù)及其系統(tǒng)級實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了詳細(xì)的研究和闡述。本論文內(nèi)容主要包括:
　　 1.簡單介紹可測試設(shè)計(jì)技術(shù)的主要研究內(nèi)容,歸納可測試性設(shè)計(jì)的主要優(yōu)點(diǎn)和實(shí)現(xiàn)方法。
　　 2.詳細(xì)介紹應(yīng)用

3、最廣泛的可測試性設(shè)計(jì)技術(shù)-邊界掃描測試技術(shù)的主要思想、基本結(jié)構(gòu),并對它的可測試性機(jī)制實(shí)現(xiàn)方法進(jìn)行深入探討。
　　 3.介紹了國際最新測試技術(shù)SJTAG的優(yōu)點(diǎn)及其軟硬件結(jié)構(gòu)。
　　 4.重點(diǎn)介紹支持SJTAG的邊界掃描測試系統(tǒng)的開發(fā)。首先介紹該系統(tǒng)的硬件部分-掃描端口多路復(fù)用器的實(shí)現(xiàn),然后詳細(xì)闡述了測試軟件的整體架構(gòu),以及各個功能模塊的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),以及對現(xiàn)有測試故障判斷模型的改進(jìn)。測試軟件的主要功能模塊包括:電路板的設(shè)計(jì)描