非量測(cè)型數(shù)碼相機(jī)的檢校.pdf

1、作為近景攝影測(cè)量獲取影像的主要設(shè)備之一，非量測(cè)型數(shù)碼相機(jī)憑借其自身特有的優(yōu)點(diǎn)，已廣泛應(yīng)用于近景攝影測(cè)量中。影響攝影測(cè)量成果精度的一個(gè)重要因素是相機(jī)參數(shù)，由于非量測(cè)數(shù)碼機(jī)內(nèi)方位元素和畸變系數(shù)未知，且不夠穩(wěn)定，不能直接進(jìn)行像位的解析計(jì)算，因此使用數(shù)碼相機(jī)獲取測(cè)量數(shù)據(jù)前，需要對(duì)相機(jī)進(jìn)行檢校。相機(jī)參數(shù)的檢校成果質(zhì)量的高低直接關(guān)系著能否滿足測(cè)量精度要求。 針對(duì)眾多的非量測(cè)相機(jī)的檢校方法，本文以常用的、發(fā)展成熟的直接線性變換（DLT）模型檢

2、校方法和基于共線方程的像點(diǎn)坐標(biāo)誤差方程式的一般式為依據(jù)，通過(guò)分析數(shù)碼相機(jī)的誤差來(lái)源，同時(shí)考慮相機(jī)主距、像主點(diǎn)坐標(biāo)和物鏡光學(xué)畸變等因素引起的系統(tǒng)誤差，提出了基于共面條件下連續(xù)像對(duì)相對(duì)定向的相機(jī)檢校方法，借助拍攝目標(biāo)的連續(xù)像對(duì)建立數(shù)學(xué)模型，利用泰勒級(jí)數(shù)對(duì)共面方程模型進(jìn)行線性化，運(yùn)用最小二乘原理將量測(cè)數(shù)據(jù)通過(guò)自編程序進(jìn)行解算，在沒(méi)有物方控制點(diǎn)的情況下實(shí)現(xiàn)相機(jī)各參數(shù)值的自檢校。 本論文的提出的方法不需要做高精度的現(xiàn)場(chǎng)控制點(diǎn)，造價(jià)低，設(shè)備